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單多晶硅片切割線痕難題研究

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單多晶硅片切割線痕難題研究

斷線

斷線后的晶棒即使能夠挽救回來,但是由于停機(jī),硅片上也會產(chǎn)生線痕。產(chǎn)生斷線的原因主要有:張力問題。收放線端排線不均勻,造成“一側(cè)坑一側(cè)包”的狀況,鋼線運(yùn)動到兩側(cè)時張力急劇跳動,造成斷線;張力臂由于長時間未清理,粘附砂漿過多,造成張力臂過重,調(diào)節(jié)靈敏度降低;張力臂轉(zhuǎn)軸部分被砂漿堵塞,造成擺動不暢,都可以導(dǎo)致斷線;鋼線生產(chǎn)時產(chǎn)生線頭穿錯,也稱為壓線,極易造成斷線;張力檢測設(shè)備故障或由于長時間使用,張力檢測值形成偏差,從而形成斷線;鋼線走線導(dǎo)輪磨損嚴(yán)重,造成鋼線劇烈波動,張力不穩(wěn),導(dǎo)致斷線。

鋼線本身質(zhì)量問題

鋼絲強(qiáng)度偏低;鋼絲存在表面缺陷,當(dāng)受力時這些表面缺陷處成為應(yīng)力薄弱部位,易于斷裂。切割工藝問題。張力設(shè)定過大,鋼線運(yùn)行速度過高,砂漿粘度過低,砂漿流量過低,新線供給過少,造成帶砂漿能力下降,鋼線磨損量過大,形成斷線;工作臺進(jìn)給速度過快,造成鋼線彎曲度過大,形成斷線。由此可見,控制斷線問題首先要控制好張力,張力臂系統(tǒng)要定時清洗,保證其運(yùn)行靈敏,導(dǎo)線輪要定期更換,張力檢測裝置要定期校正,校正完成后用手動張力計(jì)進(jìn)行校對,保證其張力檢測無偏差;其次要購買品質(zhì)好的鋼線,否則會大大增加斷線率;最后要使用成熟的切割工藝,其中砂漿配置是一個關(guān)鍵環(huán)節(jié)。碳化硅微粉在包裝、運(yùn)輸、存放過程中擠壓結(jié)團(tuán),這就要求工人在配制沙漿倒料過程中要特別注意:倒料時應(yīng)慢倒,控制在25~3min一袋,避免猛倒造成微粉沉底結(jié)塊攪拌不均,造成與實(shí)際配比不一致,影響切割。碳化硅微粉具有較強(qiáng)吸水性,在空氣中極容易受潮結(jié)團(tuán),應(yīng)避免微粉裸露在空氣中時間過長。砂漿在配制過程出現(xiàn)了許多的人為因素,很多參數(shù)因人為而改變。如果改為自動投料,減少人為因素效果會更好。最好把碳化硅微粉在80~90℃烘箱里,烘8h以上,來優(yōu)化碳化硅微粉的各項(xiàng)指標(biāo)。一般來說,手動調(diào)配的砂漿需要攪拌6h以上,全自動霧狀投入磨粉的,只需攪拌1~2h即可使用。

跳線

跳線的線痕一般集中在硅棒某一段,但也有全線網(wǎng)跳線的,造成硅棒各段都有線痕。導(dǎo)致線網(wǎng)跳線的原因主要有:上次切割完的線網(wǎng)沒有清理干凈,或者硅片碎片、砂漿的雜質(zhì)沒有過濾完全,進(jìn)入線槽引起跳線;張力設(shè)定過小,造成鋼線繃緊不夠引起跳線;導(dǎo)輪使用時間過長,造成鋼線振動過大,引起跳線;主輥線槽磨損嚴(yán)重,鋼線在相鄰線槽間移動,造成跳線。由此可見,為了避免跳線,每次切割前要嚴(yán)格檢查線網(wǎng)和主輥狀況,保證其雜質(zhì)都被清理干凈;鋼線張力要根據(jù)鋼線直徑和工作臺進(jìn)給速度合理設(shè)定;定期檢查更換導(dǎo)輪,保證其導(dǎo)線槽磨損量在合適范圍內(nèi)。

粘膠問題

硅棒與玻璃板粘接時,由于抹膠過多或者刮膠不徹底,導(dǎo)致鋼線帶膠切割,造成鋼線攜帶砂漿能力下降,形成線痕。此類線痕一般在靠近粘膠面的倒角處。因此抹膠量要嚴(yán)格控制,可以用紙膠帶粘于倒角處,待硅棒與料板壓緊穩(wěn)定后,再將膠帶撕下,這樣就可以防止膠水粘附在硅棒上。

收線弓時產(chǎn)生線痕

在切入玻璃的時候,正在拉線弓,這個時候鋼線在兩種介質(zhì)中切割,由于硬度和結(jié)構(gòu)的不同(以金剛石硬度10為準(zhǔn),玻璃硬度為6,單晶硅硬度略遜于金剛石),導(dǎo)輪跳動過大,哪怕一瞬間,產(chǎn)生側(cè)移,就會產(chǎn)生線痕。因?yàn)椴A欠蔷w,在600℃左右就會變軟。鋼線切割到玻璃的時候在玻璃表面會產(chǎn)生大量的熱,軟化,黏附鋼線,砂漿就不易被帶入,降低了切割能力,這時也容易產(chǎn)生線痕。

進(jìn)刀口鋼線波動。由于剛開始切割,鋼線處在不穩(wěn)定狀態(tài),鋼線的波動產(chǎn)生進(jìn)刀口線痕,進(jìn)線點(diǎn)質(zhì)硬,比如多晶的切割一般會有此問題,加墊層(導(dǎo)向條,如石墨,玻璃等)可以使鋼線容易切入,消除線擺,消除進(jìn)刀口線痕。

硬質(zhì)點(diǎn)線痕

單晶沒有硬質(zhì)點(diǎn),多晶在鑄錠過程中會形成硬質(zhì)點(diǎn),切割時會產(chǎn)生硬質(zhì)點(diǎn)線痕。硬質(zhì)點(diǎn)的成分為SiC和Si3N4,主要聚集在頂部10mm之內(nèi),一般情況下,硬質(zhì)點(diǎn)線痕比其它線痕有較高的線弓。此線痕與硅片切割的工藝和輔料無關(guān),主要取決于多晶鑄錠的原料和工藝。多晶鑄錠前須先對坩堝進(jìn)行氮化硅涂層,若涂層黏結(jié)不牢則會在鑄錠過程中由于熱對流作用而進(jìn)入硅液,產(chǎn)生硬點(diǎn),而鑄錠多晶回用料處理不凈也會有此問題。多晶爐石墨熱場配件即為碳部件,鑄錠時碳進(jìn)入硅料,如果某區(qū)域碳富集在一定溫度下反應(yīng)則生成了碳化硅,當(dāng)然也不能排除部分是由于硅原料的問題。減少多晶硬質(zhì)點(diǎn)的解決方法:在裝料后執(zhí)行嚴(yán)格的開爐程序以排除氧和水分,因?yàn)樗麄兛梢院褪磻?yīng)生成CO溶于硅熔體,使得碳含量增加。將石英坩堝和石墨托隔開或選取適當(dāng)?shù)臍饬鞣绞绞笴O不能到達(dá)熔硅表面,減少晶體生長過程中的碳污染。盡量縮短硅錠生長周期,以抑制SiC的長大和聚集,他們在較細(xì)小、未聚集的情況下不會對硅片切割造成危害。熱場采用二氧化鉬涂料進(jìn)行覆蓋。

均勻線痕

此類線痕的表現(xiàn)形式為硅片整片或部分區(qū)域的密集線痕。造成此類線痕的原因主要有:沙漿黏度不夠、鋼線圓度不夠、線速過高、鋼線張力太大,導(dǎo)致鋼線帶砂漿能力降低。碳化硅微粉切割強(qiáng)度不夠或者圓度系數(shù)過高,導(dǎo)致砂漿切割能力下降。工藝參數(shù)不合理,砂漿流量過低。由此可見,為了避免此類線痕產(chǎn)生,切割前要仔細(xì)檢查鋼線質(zhì)量、碳化硅微粉硬度和圓度,切割時使用成熟的切割工藝,確保鋼線張力、線速、砂漿流量合理配置。此外,目前很多廠家為了節(jié)約成本使用回收砂漿,由于回收砂漿的碳化硅微粉硬度、圓度不穩(wěn)定,導(dǎo)致重新配比后的砂漿中碳化硅微粉之間、微粉與懸浮液之間存在配合性問題。這種使用回收砂造成的均勻線痕可以通過加大砂漿密度,降低工作臺速度,減少使用回收砂的比例和加大砂漿更換量在一定程度上得到控制。

多線切割工藝非常復(fù)雜,硅片線痕產(chǎn)生的原因也是多種多樣,為了減少線痕片的產(chǎn)生,必須嚴(yán)格保證切割線和碳化硅微粉的質(zhì)量,砂漿的配置和攪拌要嚴(yán)格按照配置工藝進(jìn)行,保證其黏度、密度、切割力符合要求;粘膠時注意膠水使用量,避免膠水在硅棒倒角處殘留;切割前仔細(xì)檢查線網(wǎng)和主輥,保證沒有雜質(zhì)附著;砂漿要充分過濾,濾凈其雜質(zhì);檢查張力系統(tǒng)和每個導(dǎo)線輪狀態(tài),不過度使用導(dǎo)輪;使用成熟的切割工藝,使鋼線走線速度、工作臺速度、砂漿流量、鋼線張力合理配合。只有這樣才能避免或減少線痕片的產(chǎn)生,切出質(zhì)量合格的硅片。

本文作者:江國中,蔣云龍,王學(xué)軍本文單位:中國電子科技集團(tuán)公司第四十五研究

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